X射线光电子能谱（XPS）

优势

1.因为入射到样品表面的X射线束是一种光子束，所以对样品的破坏性非常小，这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。

2.它在分析电子材料时，不但可提供总体方面的化学信息，还能给出表面、微小区域和深度分布方面的信息。

应用

XPS在各类功能薄膜的机理研究、纳米材料、高分子材料、材料的腐蚀与防护、催化剂研究与失效分析等方面广泛应用。结合其它表征技术，可以对腐蚀、催化、包覆、氧化等过程进行研究。

样品要求

1.样品物性/外形/尺寸：导体、半导体和绝缘体均可以。对绝缘体只适合粉末、薄膜、薄片，不适合块体。半导体和绝缘体片状样品：厚度1毫米以内；

2.导体片状样品：厚度小于3 mm；长×宽的尺度范围：6 mm×6mm 到10 mm×1 mm以内；

3.粉末样品：重量在30 mg左右，体积大于0.2 ml；如果需要压片时（有利于做定量分析），送样量(体积)应适当增加到0.75-1 ml。样品要充分干燥，粉末尽量研细，样品无磁性、无腐蚀性；

4.对于块状（不规则形状时）样品：需要送样人将样品加工成片状，上下两面最好互为平行面；

5.不能检测放射性样品。

结果展示