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原位XRD测试

X 射线衍射是通过 X 射线在样品中的衍射现象,利用衍射峰的位置和强度,来定性分析材料的结晶类型、晶体参数、晶体缺陷、不同结构相的含量等。对于应用于储能、催化等领域的材料而言,其晶体结构往往会随着反应的进行发生演变,而非原位XRD只能检测到某―状态下材料晶体结构的转变,很难准确得到关于材料在整个转变过程中的相关信息,尤其是关于电极材料相变和结构演变的研究。最为重要的是,整个过程存在因电极材料暴露于空气中,而破坏掉真实状态的风险,非原位XRD测试往往不能很好地还原电池材料在充放电过程中的真实状况。原位XRD作为一种XRD的衍生测试手段,可以很好的解决非原位XRD测试过程中的诸多问题。

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原位XRD测试


应用领域

原位XRD技术早就已运用到材料科学研究中,主要用于对物质的组成和结构进行鉴定和研究:

(1)原位XRD在材料反应过程中得到实时的结构变化信息,可以深入的认识材料在充放电过程中发生的反应,对如何进一步改进材料具有重要的指导意义;

(2)原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息,由于原位XRD技术在测试的整个过程中是针对同一材料的相同位置进行测试,因而通过该测试手段所得到的信息(晶胞参数、峰强度等参数)具有相对可比性,可以得到一系列实时的结构变化信息。


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